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パテントマップによる特許集計、特許出願件数推移の確認 特許分析・IPランドスケープ パテント・インテグレーション【チュートリアル】
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特許検索・特許分析 特許データベース パテント・インテグレーション • https://patent-i.com • この動画では、パテント・インテグレーションを利用した特許検索および特許出願件数推移の集計手順を紹介します。特許件数推移は、特許分析において最も基本的な分析指標です。特許件数推移を確認することで、企業・技術ごとの技術開発、研究開発への注力状況を確認することができます。 • まず、分析作業に先立ち、分析対象となる特許検索集合を作成する必要があります。パテント・インテグレーションへログインすると、かんたん検索画面が表示されます。この検索画面では、企業名や技術キーワードで簡単に特許を検索することができます。より詳細な検索を行いたい場合は、高度な検索タブをクリックすることで、企業名、キーワード、出願日、公開日などを組み合わせたより詳細な検索条件で特許を検索することができます。 • 今回は、かんたん検索機能を利用して、自動運転およびソーラー事業で有名なアメリカのテスラ社の特許を検索してみましょう。調査対象を米国特許とします。検索対象のデータベースとして、英語文献の米国特許公報および米国特許出願を選択します。米国特許公報は、特許として登録されたものを示し、米国特許出願は未登録の特許出願を示します。今回は両方の特許を対象とします。 • 早速、検索欄にTESLAと入力して検索を行います。すると、2971件の特許がヒットしました。特許検索を行うと、特許検索結果は画面左側のエリアに保存されていきます。 • なお、キーワードを完全一致で検索する場合には、キーワードをダブルクオテーションで囲む必要がある点にご注意ください。例えば、太陽電池を検索する場合には、太陽電池をダブルクオーテーションで囲みます。これにより、太陽電池と完全一致の特許を検索することができます。ダブルクオテーションで囲まない場合は検索クエリが単語ごとに分割され、太陽または電池の特許の検索が行われる点にご注意ください。 • さて、検索結果の一覧を確認し、発明の名称を見てみると、テスラ以外の企業で特許で発明の名称などにTESLAが含まれる特許が検索結果にヒットしていることがわかります。今回の検索集合にどのような企業、つまり特許の出願人が含まれているのか調べるには、右下の「二次検索」ボタンをクリックし、二次検索ダイアログを開きます。 • 二次検索ダイアログでは、今回の検索集合の特許分類、出願人、出願日、キーワードのランキングを簡単に確認することができます。二次検索ダイアログにおいて、人物アイコンをクリックすると、上位出願人、権利者、発明者などをランキング形式で表示させることができます。確認してみると、ゼネラルエレクトリックなどTESLA以外の出願人の特許も多数含まれていることがわかりました。 • また、テスラ は2017年に社名をテスラモーターズインクから、テスラインクへ変更しているため、2種類の出願人名の特許が存在していることがわかります。 • 今回は、両方の社名の特許を分析対象にする必要があるため、このテスラ ・モーターズ・インクおよび、テスラ ・インクを検索欄に入力し、改めて検索ボタンをクリックします。これにより、出願人名がテスラ ・モーターズ・インクまたは、テスラ ・インクの特許を検索することができます。このとき、フレーズ検索を行うため、検索文をダブルクオーテーションで囲みます。ダブルクオテーションで囲まないと、モーターズやインクのみで一致してしまい余計な特許がヒットしてしまいます。 • このようにして検索を行うと604件の特許がヒットしました。今回の検索結果は画面左側のエリアに検索集合として保存されていきます。パテント・インテグレーションはこの作成された特許検索集合に対して各種特許分析を行うことができるシステムとなっています。また、各種分析結果は、この検索集合に紐づけられて一括管理を行うことができ、分析結果をいつでも読み出すことができます。 • 特許出願件数推移を確認するためにパテントマップ機能というものを利用します。パテントマップ機能は、分析対象となる検索集合の特許分析メニューをクリックし、メニューからマップを選択します。パテントマップウィザード画面が開きます。 • 今回は、時系列の出願件数推移を確認したいため、集計値として文献数を選択し、x軸に出願日を選択します。すると、右側に候補表示画面が表示されます。 • 候補表示ボタンをクリックすると、今回のテスラ 社の特許集合の出願件数推移の大まかな傾向を確認できるため、集計期間をドラッグ＆ドロップにより選択します。なお、集計期間は直接値を入力して１月単位で指定することもできます。今回は、1年単位で集計します。 • 最後に描画ボタンをクリックすると、出願件数の集計が行われ、グラフが描画されます。グラフを見ると、テスラ 社の出願件数推移を確認することができました。2012年にピークがあり、2013年、2014年に落ち込んだ後、出願件数は増加傾向にあります。2013年頃はちょうどモデル3の量産に苦しんでいた時期であり、特許出願どころではなかった様子が伺えます。なお、2018年以降の出願件数は、特許出願は出願されてから公開されるまで1年半のタイムラグがあるため、直近1年半の特許は検索できないことに起因しており、出願が減っているわけではない点に注意する必要があるでしょう。 • なお、グラフの各ドットをクリックすることで、当該出願年の特許をリスト表示させることができます。表示された特許は、リストから国旗アイコンをクリックすることで開き、内容を確認することができます。 • 作成したパテントマップにはメモを記載することができるので、メモを記載しておきましょう。 • 次に、集計条件を変更して再度、パテントマップを描画する場合は、画面左上の編集アイコンをクリックします。パテントマップウィザード画面が開きますので、今回はマップ種として2次元を選択し、1軸目に出願日、2軸目に特許分類を指定してパテントマップを作成してみましょう。 • 2軸目に特許分類としてIPCを選択します。特許分類のプルダウンからサブクラスを選択し、候補表示ボタンをクリックします。上位5つ程度の特許分類を選択し最後に、その他のチェックにチェックをつけることで、その他の集計を行うことができます。 • 描画ボタンをクリックすると、出願件数の集計が行われグラフが描画されます。特許分類ごとの出願件数推移を確認することができました。このグラフも各ドットをクリックすることで、該当特許リストを一覧表示させ、各特許の内容を確認することができます。 • このパテントマップにもメモを記載しておきましょう。 • 最後に、画面上部の検索アイコンをクリックすることで、先ほどの特許検索画面に戻ることができます。なお、このアイコンをクリックすることで、特許検索、パテントマップなどの各種機能の表示画面を切り替えることができます。 • 特許検索画面において、特許検索集合の履歴管理ボタンをクリックすると、この特許検索集合に対して行われた分析結果を一覧表示することができます。今回のケースでは「マップ」タブをクリックすると、先ほど作成したパテントマップが保存されていることを確認できます。グラフアイコンをクリックすると、先ほど作成したグラフを再描画することができます。また、メモを確認したり、編集することができます。 • このように、パテント・インテグレーションでは特許検索集合に紐づけられて分析結果が一元管理され、直感的に特許分析作業を管理することができます。 • 以上で、パテント・インテグレーションを利用した特許検索および特許出願件数推移の集計手順の説明を終了させていただきます。 • 【チュートリアル動画】 • 特許検索機能の説明(かんたん検索、高度な特許検索、類似特許検索) • • 特許検索機能の説明(かんたん検索、高度な特許検索、類似特許検索) | 特許... • パテント・ランドスケープによる技術ポジションの可視化 • • パテント・ランドスケープによる技術ポジションの可視化 | 特許分析・IPラ... • パテントマップによる特許集計、特許出願件数推移の確認 • • パテントマップによる特許集計、特許出願件数推移の確認 | 特許分析・IPラ... • 特許テキストマイニングによる特許集合の可視化 • • 特許テキストマイニングによる特許集合の可視化 | 特許分析・IPランドスケ... • 共同出願人・共同研究・アライアンス先の調査方法 • • 共同出願人・共同研究・アライアンス先の調査方法 | 特許分析・IPランドス... • 重要特許の調査方法 • • 重要特許の調査方法 | 特許分析・IPランドスケープ パテント・インテグレ... • 特許検索結果コントロールの操作方法 • • 特許検索結果コントロールの操作方法 | 特許分析・IPランドスケープ パテ... • 特許検索集合に対する二次検索機能の操作方法 • • 二次検索機能により効率的な絞り込み検索 | 特許分析・IPランドスケープ ... • 検索結果に対するユーザー評価の付与、フィルタ機能の利用方法 • • 特許へのユーザー評価の付与およびフィルタ機能 | 特許分析・IPランドスケ... • 特許文献の閲覧機能 • • 特許文献の閲覧機能の説明| 特許分析・IPランドスケープ パテント・インテ... • 人物グルーピング機能 • • 人物グルーピング機能による名寄せ方法| 特許分析・IPランドスケープ パテ... • 特許分類検索機能 • • 特許分類検索機能の利用方法| 特許データベース パテント・インテグレーション
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